光學(xué)影像測量儀與三次元測量儀的區(qū)別

光學(xué)影像測量儀與三次元測量儀的不同之處，可以從測量范圍及測量方式來區(qū)分，通過對兩者的了解對選擇正確的測量機(jī)很重要。

1、兩者的測量范圍不同

光學(xué)影像測量儀可分為二次元，2.5次元影像測量儀，從字面不難理解，光學(xué)影像測量儀主要進(jìn)行二維尺寸的測量，以及簡單的測高。

三次元測量儀，主要是指通過三維取點(diǎn)來進(jìn)行測量的一種儀器，市場上也有叫三坐標(biāo)，三坐標(biāo)測量機(jī)，三維坐標(biāo)測量儀，三次元的。主要原理是：將被測物體置于三次元測量空間，可獲得被測物體上各測點(diǎn)的坐標(biāo)位置，根據(jù)這些點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計(jì)算求出被測物體的幾何尺寸，形狀和位置。

2、兩者的測量方式不同

光學(xué)影像測量儀是一種非接觸的測量方式，由光學(xué)放大系統(tǒng)對被測物體進(jìn)行放大，經(jīng)過CCD攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后，可高效地檢測各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測與質(zhì)量控制。

三次元測量儀主要以接觸式測量為主，是通過探測傳感器（探頭）與測量空間軸線運(yùn)動的配合，對被測幾何元素進(jìn)行離散的空間點(diǎn)位置的獲取，然后通過一定的數(shù)學(xué)計(jì)算，完成對所測得點(diǎn)（點(diǎn)群）的分析擬合，最終還原出被測的幾何元素，并在此基礎(chǔ)上計(jì)算其與理論值（名義值）之間的偏差，從而完成對被測零件的檢驗(yàn)工作。